SANKO 三高 SAMAC-FN 薄膜厚度计 非接触式薄膜测厚检测设备

SANKO 三高 SAMAC-FN 薄膜厚度计 非接触式薄膜测厚检测设备

SANKO 三高 SAMAC-FN 薄膜厚度计 非接触式薄膜测厚检测设备

在柔性薄膜、卷材涂布、光学膜材量产产线，接触式测厚探头容易划伤膜面，造成产品报废，非接触式检测方案成为很多高端膜材企业的刚需。SANKO 三高 SAMAC-FN 薄膜厚度计，采用非接触式检测架构，无需探头直接触碰薄膜表面，实现无损厚度测量，适配各类软质薄膜卷材在线抽检与实验室检测。

设备依托光学检测原理，测量过程探头不接触膜材，不会刮伤涂层、不会在薄膜表面留下压痕，对于高价值光学膜、功能性涂布膜、离型膜等敏感材料十分友好。检测光斑小，可针对薄膜局部区域、窄幅膜条定点测量，评估局部涂布均匀度。仪器自带温度补偿模块，车间环境温度波动时，自动修正测量偏差，保障长时间连续检测的数据一致性。

操作界面简洁，内置多组薄膜材质预设参数，PET、PP、PI、亚克力等常见薄膜材质一键选择，减少复杂参数调试。支持连续测量模式，样品匀速移动状态下自动连续采集厚度数据，绘制厚度波动曲线，直观查看卷材厚薄变化。数据可实时导出，对接上位机，用于产线工艺闭环调整。设备结构紧凑，既可以放置在实验室做样品检测，也可加装支架安装在分切机、涂布机侧边做离线抽检。光学镜头做防尘防护，配套防尘罩，减少车间粉尘附着影响检测精度。

主要应用于光学功能膜、锂电隔离膜、柔性包装膜、医用涂布膜、离型膜等卷材检测。北崎为 SANKO 三高代理，日本一手原厂渠道，供应 SAMAC-FN 整机、光学镜头、校准标准膜片，原厂技术团队可协助调试，匹配不同材质薄膜的检测参数。