透射电子显微镜🔬（TEM）依赖高压电源提供电子加速电压，电压稳定性直接决定成像分辨率（电压波动 1ppm 可导致分辨率下降 0.1nm），传统电源受电网波动（±10%）、温漂（0.2%/℃）影响，电压稳定性仅能达到 10ppm，难以满足原子级成像需求。
稳定性增强需实施四项核心技术：一是电网干扰抑制，采用三级 EMC（电磁兼容）滤波 + 有源功率因数校正（APFC）电路，电网电压波动 ±10% 时，电源输入电压稳定度达 ±0.1%，消除电网干扰影响。二是恒温控制，在电源核心部件（如高压模块、采样电阻）周围设置恒温腔，通过 PID 温度控制，使恒温腔温度波动 <±0.05℃，温漂系数降至 0.01%/℃。
三是高精度反馈调节，采用 24 位高精度 ADC 与数字信号处理器（DSP），实现电压采样误差 <±0.001%，反馈调节周期 < 10μs，实时补偿电压漂移。四是长期稳定性优化，选用超低老化率（<0.01%/ 年）的精密元件，配合定期自动校准功能（每月一次），使电源 24 小时电压稳定性提升至 1ppm，年稳定性 < 5ppm。实际应用中，该电源驱动 TEM 可实现 0.1nm 原子级成像，在纳米材料表征中，成像清晰度提升 30%，为材料科学研究提供高精度观测支持。
