在5G、AI算力与『数据中心』需求爆发的当下，光『芯片』是AI『服务器』数据传输的核心组件，负责实现光电信号转换，以满足AI『服务器』内部及集群间高速率、低延迟的数据传输需求。AI『服务器』对光模块的需求量显著高于传统『服务器』，数通市场、电信市场对算力的需求凸显高速率光『芯片』的重要性。与此同时，光纤作为能量和信息传输的媒介，光纤技术凭借其轻量化、高精度及多功能特性，在光通讯领域发挥着不可替代的作用。慕藤光以创新技术为行业提供高精度、智能化的解决方案，确保光『芯片』与光纤的精密检测与高效装配，推动光通讯领域迈向更高性能与可靠性。
光『芯片』AOI检测
检测需求
对光『芯片』正面、背面、前/后端面进行多面检测，检测是否有裂痕、瑕疵以及其他影响性能的外观缺陷，最高识别0.1um的瑕疵，0.1s内对焦成像
检测原理：
通过高分辨率光学镜头捕捉光『芯片』表面的微观形貌，结合特定波长光源增强缺陷对比度，实时动态对焦，确保不同位置、角度的『芯片』表面均能清晰成像。
光『芯片』AOI检测需借助高分辨率自动对焦光学系统，捕捉『芯片』表面形貌，再结合图像处理技术自动识别缺陷，如划痕、污染、结构偏差，和尺寸误差等。该检测方式的核心在于高速、非接触式的精准检测，通过高分辨率光学镜头捕捉光『芯片』表面的微观形貌，结合特定波长光源增强缺陷对比度，实时动态对焦，确保不同位置、角度的『芯片』表面均能清晰成像。
视觉方案：
相机📷️：工业相机📷️
传感器：慕藤光660nm线激光对焦传感器MALF-7V
物镜：20X物镜MA-10F
图：自动对焦光学系统
成像效果：
图：慕藤光大视场光学系统成像解决方案-光『芯片』检测效果图
光纤端面检测
检测需求：
一次性完成多芯端面所有光纤的检测，包括自动对焦、居中、曝光和测量，单次检测速度≤5秒
检测原理：
针对光纤端面检测设备的光学系统倍率高，镜头景深小、夹具精度不一致导致光纤端面与光轴不垂直，进一步加剧离焦、成像困难；采用慕藤光大视场对焦光学系统，通过激光测距对焦法，实现自动对焦的动态补偿、实时测量，确保所有检测样品均在获得清晰成像。
视觉方案：
相机📷️：大靶面工业相机📷️
传感器：慕藤光660nm线激光对焦传感MALF-7V
镜管：大视场镜管MT-M44-S
物镜：10X物镜
图：慕藤光大视场自动对焦光学系统
成像效果：
图：光纤端面外观检测合格VS不合格
图：多芯光纤端面外观检测合格VS不合格
产品参数
在5G与AI主导的时代浪潮下，光『芯片』与光纤的品质，成为决定数据传输速率与稳定性的核心要素。慕藤光凭借其自主研发的智能光学检测系统，实现了对光『芯片』AOI检测、光纤端面的细微缺陷的快速精准识别，有力推动了生产效率与产品可靠性的提升。随着数据传输需求的爆发式增长，慕藤光将持续深耕检测技术，深度融合AI智能分析，致力于为光通信行业提供更高效、智能的解决方案，为全球算力网络的高速、稳定运行注入强劲动力。
